發(fā)布時(shí)間:2021-12-20
UI自動(dòng)化測(cè)試的成本比接口測(cè)試要高,主要原因不是技術(shù)實(shí)現(xiàn)難度高,而是因?yàn)閁I是對(duì)接用戶的終端界面,它是調(diào)整最頻繁,改動(dòng)最劇烈的部分,所以維護(hù)成本高。
那么我們不需要進(jìn)行UI自動(dòng)化測(cè)試了嗎?恰恰相反,對(duì)一些大型項(xiàng)目,其功能是處于不斷地迭代地,雖然界面在調(diào)整,但是由于項(xiàng)目周期長(zhǎng),在開(kāi)發(fā)和測(cè)試過(guò)程中,需要頻繁使用自動(dòng)化測(cè)試的腳本進(jìn)行回歸測(cè)試,可以提高自動(dòng)化測(cè)試的利用率,提高工作效率,降低工作成本。
而且,UI自動(dòng)化測(cè)試中,有一種很關(guān)鍵的思想,叫做“關(guān)鍵字驅(qū)動(dòng)”測(cè)試,專門用來(lái)解決UI自動(dòng)化測(cè)試腳本開(kāi)發(fā)和維護(hù)的問(wèn)題。
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