系統(tǒng)中性能瓶頸可以通過(guò)以下步驟進(jìn)行測(cè)試:
定義基準(zhǔn)
首先需要定義系統(tǒng)在正常狀態(tài)下的基準(zhǔn)表現(xiàn),例如某一時(shí)刻的響應(yīng)時(shí)間、吞吐量等。
監(jiān)控系統(tǒng)
重現(xiàn)負(fù)載
制造負(fù)載,模擬用戶或客戶端對(duì)系統(tǒng)的真實(shí)使用情形,例如高并發(fā)、大數(shù)據(jù)量等。
分析監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)
在重壓下,系統(tǒng)是否達(dá)到了預(yù)期性能的峰值,如果沒(méi)有,分析指標(biāo)數(shù)據(jù),找到出現(xiàn)瓶頸的節(jié)點(diǎn)、階段或流程。
定位問(wèn)題
通過(guò)目標(biāo)數(shù)據(jù)表現(xiàn)的明顯異常,進(jìn)行定位排查到具體問(wèn)題。
解決問(wèn)題
確定問(wèn)題后,尋找合適的解決方案,例如增加資源、優(yōu)化程序代碼等。
測(cè)試驗(yàn)證
解決問(wèn)題后,重新測(cè)試系統(tǒng),觀察系統(tǒng)性能是否已經(jīng)達(dá)到預(yù)期,如達(dá)到就結(jié)束測(cè)試,如未達(dá)到還需重新解決問(wèn)題。
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