常用嵌入式軟件測(cè)試方法分析和對(duì)比

發(fā)布時(shí)間：2020-10-12

由于嵌入式系統(tǒng)的自身特點(diǎn)，如實(shí)時(shí)性(Real-timing)，內(nèi)存不豐富，I/O通道少，開(kāi)發(fā)工具昂貴，并且與硬件緊密相關(guān)CPU種類(lèi)繁多等等。嵌入式軟件的開(kāi)發(fā)和測(cè)試也就與一般軟件的開(kāi)發(fā)和測(cè)試策略有了很大的不同。嵌入式軟件的測(cè)試可以分為軟件測(cè)試方法，硬件測(cè)試方式和軟硬件結(jié)合的測(cè)試方法，接下來(lái)就對(duì)各種測(cè)試方法進(jìn)行詳細(xì)分析對(duì)比。
 
軟件測(cè)試方法
軟件測(cè)試方法的目的就是盡量減少嵌入式軟件在目標(biāo)環(huán)境下測(cè)試的時(shí)間，不需要為了完成測(cè)試工作而建立專(zhuān)用的硬件測(cè)試環(huán)境，降低測(cè)試的成本。軟件測(cè)試方法一般是通過(guò)在宿主平臺(tái)上建立一個(gè)軟件方針測(cè)試環(huán)境來(lái)完成對(duì)被測(cè)軟件的測(cè)試。
 
硬件測(cè)試方法
常用的硬件測(cè)試方法主要包括總線監(jiān)視器、仿真存儲(chǔ)器、在線仿真器ICE和邏輯分析儀等。
 
軟硬件結(jié)合的測(cè)試方法
為了解決實(shí)時(shí)軟件測(cè)試過(guò)程中引入額外的代碼而產(chǎn)生的探針效應(yīng)問(wèn)題，測(cè)試工程師漸漸開(kāi)始研究軟硬件相結(jié)合的實(shí)時(shí)嵌入式軟件測(cè)試方法。在這些方法中，為了解決某個(gè)特定應(yīng)用中嵌入式軟件的實(shí)時(shí)性測(cè)試問(wèn)題，需要開(kāi)發(fā)專(zhuān)門(mén)的硬件設(shè)備和上層分析軟件。不過(guò)這種方法通用性不好，而且實(shí)現(xiàn)困難，測(cè)試成本高。
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