3.4交錯(cuò)配置及變體
商用車(chē)的產(chǎn)品體積通常比客車(chē)小。而且，用戶往往對(duì)諸如發(fā)動(dòng)機(jī)扭轉(zhuǎn)力，有效載荷等[5]技術(shù)規(guī)范要求更多。因此，汽車(chē)制造商經(jīng)常用產(chǎn)品變體滿足更大的客戶群，從而增加市場(chǎng)份額及產(chǎn)品生產(chǎn)量。所以，商用車(chē)輛的嵌入式系統(tǒng)包括來(lái)自多個(gè)供應(yīng)商的組件，且存在于大量的配置和變體里。
這導(dǎo)致了為了覆蓋龐大的產(chǎn)品變體而進(jìn)行的測(cè)試活動(dòng)方面的巨大的工作量。
3.5分布式開(kāi)發(fā)
由于商用車(chē)部件變體的不一致性，汽車(chē)制造商不可能開(kāi)發(fā)其所有的內(nèi)部產(chǎn)品。相反，他們更愿意依賴第三方供應(yīng)商成熟的專(zhuān)業(yè)知識(shí)。
由于這個(gè)原因，部分還因?yàn)閲?yán)格的成本要求，商用車(chē)的發(fā)展在很大程度上被分散和外包[ 6 ]了 。這形成了許多供應(yīng)鏈關(guān)系使得規(guī)范新及各級(jí)一致很困難。
事實(shí)上，制造商終也沒(méi)能在一個(gè)“黑盒”元件的內(nèi)部設(shè)計(jì)出什么細(xì)節(jié)[4]。這增加了定位單元和集成層次的組件測(cè)試誤差的復(fù)雜性。
4 .汽車(chē)軟件測(cè)試實(shí)踐
本節(jié)概述了汽車(chē)軟件測(cè)試?yán)锏膶?shí)踐情況。
本研究著眼于商用車(chē)領(lǐng)域，但本節(jié)的研究結(jié)果適用于整個(gè)汽車(chē)行業(yè)。
請(qǐng)注意，本節(jié)中的經(jīng)驗(yàn)于汽車(chē)行業(yè)主要名人們使用的主流做法。還有其他一些包括研究和技術(shù)創(chuàng)新的做法，被排除在本研究之外。
這里，我們的目的是提供一些明確的汽車(chē)行業(yè)的主要做法。
4.1基于模型的開(kāi)發(fā)和測(cè)試
根據(jù)作者與主要汽車(chē)制造商、供應(yīng)商合作的經(jīng)驗(yàn)，現(xiàn)代汽車(chē)開(kāi)發(fā)過(guò)程中模型驅(qū)動(dòng)工程有著強(qiáng)勁的發(fā)展勢(shì)頭。這包括開(kāi)發(fā)過(guò)程的各個(gè)階段，即從需求到驗(yàn)證。
模型是表示系統(tǒng)行為一部分的一個(gè)抽象視圖。
工程師很早期使用特定領(lǐng)域建模技術(shù)為系統(tǒng)行為建模，使他們能夠通過(guò)模型自動(dòng)生成代碼并在實(shí)施前測(cè)試系統(tǒng)，快速開(kāi)發(fā)系統(tǒng)。
基于模型的測(cè)試的基本思想是：應(yīng)用選定的算法由模型[13]自動(dòng)生成測(cè)試，而不是手動(dòng)創(chuàng)建測(cè)試用例。
除了自動(dòng)化程度高，基于模型的測(cè)試還有助于由抽象層面來(lái)維持系統(tǒng)模型間的可追蹤性并由系統(tǒng)執(zhí)行層面來(lái)測(cè)試輸出間的可追蹤性。這使得錯(cuò)誤的來(lái)源容易追蹤，也降低了整體測(cè)試活動(dòng)的精力和成本。
4.2循環(huán)X測(cè)試水平
基于模型的開(kāi)發(fā)和測(cè)試的不同階段是用汽車(chē)SPICE開(kāi)發(fā)標(biāo)準(zhǔn)所推薦的V模型（見(jiàn)圖1）手動(dòng)描述的。
V模型通常被設(shè)計(jì)來(lái)進(jìn)行符合開(kāi)發(fā)流程的不同水平的測(cè)試工作。
這些水平的測(cè)試被稱(chēng)為循環(huán)模型，循環(huán)軟件，循環(huán)處理器（HIL）和循環(huán)硬件（又名循環(huán)X [ 7 ] ）測(cè)試，說(shuō)明如下。
MIL （循環(huán)模型） ：
MIL提供可用系統(tǒng)（或子系統(tǒng)）模型的測(cè)試，且該模型及其環(huán)境沒(méi)有任何物理硬件可以進(jìn)行仿真模擬。該系統(tǒng)的輸入、輸出界面被定義為關(guān)于不同的測(cè)試場(chǎng)景。
輸入信號(hào)值進(jìn)行了模擬，且相應(yīng)的輸出信號(hào)值與在該場(chǎng)景中定義的預(yù)期值進(jìn)行了比較。
很早期甚至早在實(shí)施之前，MIL測(cè)試可以進(jìn)行系統(tǒng)的功能驗(yàn)證。
由于在同一臺(tái)機(jī)器上的模型和環(huán)境類(lèi)似，所以不需要實(shí)時(shí)硬件了。
SiL（循環(huán)軟件） ：
SIL進(jìn)行可執(zhí)行代碼段（或?qū)嵤┒危┑臏y(cè)試。
在同一個(gè)機(jī)器上的操作情況相似。因此，此水平不需要實(shí)時(shí)硬件。
所有關(guān)于存儲(chǔ)容量，數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)等的細(xì)節(jié)都是由被模擬的環(huán)境控制的。這確保了任何“運(yùn)行時(shí)錯(cuò)誤”（緩沖區(qū)溢出，除以零，非法類(lèi)型轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤等）在實(shí)施時(shí)的檢測(cè)。
此外，它還使系統(tǒng)行為可以通過(guò)運(yùn)行MIL里同樣的測(cè)試場(chǎng)景對(duì)模型進(jìn)行驗(yàn)證。
PIL （循環(huán)處理器） ：
PIL確保在目標(biāo)處理器或目標(biāo)處理器模擬器上運(yùn)行時(shí)，可以測(cè)試實(shí)施過(guò)程。
執(zhí)行環(huán)境通常仍是通過(guò)一個(gè)專(zhuān)用的實(shí)時(shí)仿真器模擬的。
這個(gè)階段的故障可以與目標(biāo)編譯器（聯(lián)動(dòng)，優(yōu)化選項(xiàng)，等等）或目標(biāo)處理器架構(gòu)聯(lián)系起來(lái)。
MIL和SIL的測(cè)試場(chǎng)景在這可以用來(lái)與原結(jié)果進(jìn)行比較，確保代碼功能正確，即使是在它已被編譯并在目標(biāo)處理器上運(yùn)行后。
HiL（循環(huán)硬件） ：
HiL使現(xiàn)被嵌入實(shí)際硬件（ECU）中的實(shí)施得以被測(cè)試。這是通過(guò)把ECU和一個(gè)專(zhuān)用的實(shí)時(shí)仿真器連接起來(lái)完成的，此仿真器闡明了ECU對(duì)分析結(jié)果的測(cè)試環(huán)境的實(shí)際輸入/輸出。
ECU用來(lái)交流的嵌入式系統(tǒng)的其他部分仍然可以被模擬。
然而，它們與真實(shí)的電子信號(hào)進(jìn)行交互。
HiL里的測(cè)試可以在實(shí)時(shí)環(huán)境中分析代碼和硬件集成。
此水平的故障，也與輸入/輸出界面間的低水平通信，與嵌入式系統(tǒng)的其他部分的實(shí)時(shí)通信有關(guān)。
MIL和SIL的測(cè)試場(chǎng)景可以用來(lái)驗(yàn)證先前觀察到的系統(tǒng)行為。
圖1. V模型闡明循環(huán)X測(cè)試階段
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版權(quán)聲明：本文出自 SPASVO澤眾軟件測(cè)試網(wǎng)：http://m.xmdc.net/news/html/2014313145621.html
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